離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ) , 經(jīng)過長時間的測試(1 ～1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生( ION MIGRATION ) , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。( ION MIGRATION TESTING )
在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。
通過最大3000 V的直流偏置，為TDDB器件提供了高電壓、高電壓的離子遷移，并對器件進(jìn)行了絕緣。高壓電路板，高空隙件。
另外，HVUα系列還可以測試兩個機(jī)架和電池之間的太陽系統(tǒng)漏電，HVUα系列可在每個通道上設(shè)置電壓50-3000V。
檢測絕緣退化征
納米鈉的TANS高性能檢測電路可實(shí)現(xiàn)瞬時電流的運(yùn)動和局部放電。
★在所有信道中都能檢測到絕緣性退化，如局部放電或瞬間短路，這是無法進(jìn)行數(shù)據(jù)采集的。
★它能夠在早期階段預(yù)測最終結(jié)果，并有可能提出下一步該做什么。
★可以通過顯示電阻圖和局部放電來找出瞬時絕緣降解和下降電阻的相關(guān)性。
精確輸入偏差
HVUα系列提供在每條通道上設(shè)置不同的輸入偏置，通過反饋輸入每個通道的偏置，HvUa系列可以在任何時候輸入正確的設(shè)定偏差。
用簡化的測試儀，當(dāng)絕緣電阻運(yùn)動時，實(shí)際的輸入偏置會發(fā)生變化，通過設(shè)定偏差和實(shí)際偏差的差異造成錯誤的評估。
高可靠性不使用機(jī)械繼電器
HVUα系列沒有機(jī)械式繼電器，這就是為什么它是故障的最主要原因。不穩(wěn)定。HvUo系列在每個通道上都有電力和測量電路。
低噪聲測量有源保護(hù)電纜
使用主動保護(hù)電纜，防止外界噪音。這是先進(jìn)的測量小電流(高電阻)比典型的屏蔽電纜。
此外，為了減輕高頻信號的衰減，將改善局部放電的檢測性能。
檢測每個通道上的快速檢測功能
HVUα系列在每條通道上都有短路的檢測電路，并在毫秒甚至3000伏的電壓下切斷偏置。HVUα?系列將不會輸入功率超過必要的NG樣品，并削減輸入偏置一旦輸入偏置電纜觸摸在沒有意圖的案件室。這是為了安全。
